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ARL QUANTX X射线荧光能谱仪(EDXRF)
产品描述

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度,打破了1纳米的检测限瓶颈。
专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计,ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。

能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备,实现主量、次量和痕量元素分析,所分析样品范围广泛,可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。

先进的技术

  • 独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器
  • 数字脉冲处理 (DPP) 技术
  • 高性能、多元素分析
主要功能
  • 出色的痕量分析灵敏度
  • 高分析量的进程控制
  • 适用于异常材料的高级分析算法
  • 出色的样品处理灵活性
  • 机械简化和灵活性
  • 占地面积小、易于运输以进行野外测量
  • 快速、简易的安装以及可完全现场定制
  • 随附完整的实验室启用套件
  • 经验证的硬件和全套软件
  • 现场、协同方法开发
  • 完整的技术应用支持
  • 汇集了数百种应用的专业知识
功能强大、易于使用的 WinTrace*软件
  • 无标和半无标分析
  • 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法
  • 多层厚度及成分
  • 不限元素、不限数量的标样
  • 利用自动化操作实现多个激发条件
可用于:


  • 悬浮颗粒物过滤器
  • 符合 RoHS 及 WEEE 的分析
  • 法医及痕量分析
  • 营养补充剂
  • 磁性介质和半导体
  • 土壤污染
  • 过滤器上的薄膜
  • 塑料中的有毒元素
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